Diatest塞規(guī)式孔徑測量儀BMD測頭選型介紹德國Diatest公司于1948年由Hermann Költgen先生創(chuàng)辦，總部坐落在達姆施塔特，Diatest用戶更是遍布世界各地。

Diatest塞規(guī)式測量頭選型介紹德國Diatest公司于1948年由Hermann Költgen先生創(chuàng)辦，總部坐落在達姆施塔特，Diatest用戶更是遍布世界各地。

4系列標準型電子塞規(guī)產(chǎn)品簡介：DIATEST塞規(guī)式測量系統(tǒng)*的導向體設計,保證了測量結果的可靠性,解決了孔徑測量的對中難題,減少了人為因素對測量結果的影響,可方便、快速、準確得出測量結果。

6系列通孔兩點式塞規(guī)產(chǎn)品簡介：DIATEST塞規(guī)式測量系統(tǒng)*的導向體設計,保證了測量結果的可靠性,解決了孔徑測量的對中難題,減少了人為因素對測量結果的影響,可方便、快速、準確得出測量結果。

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